Testen einer mit Funktionsblöcken und Fehlermodellen versehenen Platine mittels µC
Betreuer: Dipl.-Inf. Gürkan Uygur
Vortragender: Thomas Achorner
Problemstellung: Gegeben sei eine Platine mit verschiedenen Funktionsblöcken. Für den vorgesehenen Test nach „bekannten Fehlerbildern“ sind Fehlermodelle anhand von Jumpern realisiert. Auf diese Weise können z. B. Unterbrechungen auf den Leiterbahnen modelliert sowie real umgesetzt werden. Für den Test des oben beschriebenen Device Under Test (DUT) soll ein „Mikro-ATE“ (µATE) zum Einsatz kommen. Dazu soll für Stimuli, Capturing und anschließender Testauswertung ein geeigneter µC ausgewählt und programmiert werden.
Problemlösung: Ein geeigneter µC-Board soll die Testaufgabe übernehmen. Dazu sollen Kriterien wie die Betriebsspannung sowie die HW-Ressourcen (digitale IOs, analoge Inputs) bzgl. des Testaufbaus erfasst und erfüllt werden. Weiterhin soll eine Verbindung zwischen der Testplatine und dem µC-Board hergestellt werden. Zudem soll - ähnlich wie in einer ATE-Umgebung - eine Interaktion mit dem User (Testingenieur) ermöglicht werden. Dazu soll eine entsprechende Firmware-/Software-Lösung erarbeitet werden.
Durchführung: Die Ziele sind wie folgt beschrieben:
- Konzept und Realisierung einer HW-Schnittstelle
- Auswahl, Inbetriebnahme und Programmierung eines geeigneten µC- Boards
- Fehlermodellierung bzw. Formalisierung von Fehlerbildern
- Algorithmische Umsetzung von Einzeltests sowie Testabläufen
- Aufstellung einer µATE-Umgebung
Termin: 17.07.2017 15:45 Uhr