Built-In Self-Test Methode
Betreuer: Dipl.-Ing. Farouk Babba
Vortragender: Ruoyn Jiang
Problemstellung: Design for Test (DFT) sind IC-Design Techniken, die den Funktionstest in einem Hardware Produkt ermöglichen. Diese Funktionen vereinfachen es, Fertigungstests auf die entwickelte Hardware anzuwenden. Der Zweck von Herstellungstest ist es, Produktions- und Funktionsfehler am fertigen Bauteil herauszufinden. Eine dieser Methoden von DFT heißt BIST (Built-In Self-Test). Mit dieser Methode kann ganz, oder teilweise, auf ein Testsystem verzichtet werden. BIST ist eine Hardware Struktur, die Testdaten produziert. Diese werden während des Tests in einer Schaltungsstruktur abgearbeitet. Mit den dabei gewonnenen Testergebnissen werden die realen Ausgangsdaten verglichen und dann auf ihre Richtigkeit hin überprüft.
Problemlösung: BIST Methode definieren und in eine Struktur einarbeiten.
Durchführung:
- BIST Methode theoretisch studieren
- Struktur untersuchen und darstellen
- Mögliche BIST Typen definieren und Unterschiede herausfinden
Termin: 23.06.2016 13:15 Uhr