D-Algorithmus
Betreuer: M.Sc. Tobias Rumpel
Vortragender: Yutai Wang
Problemstellung: Fehler in elektronischen Schaltungen werden mithilfe von Fehlermodellen modelliert. Dabei ist das Stuck-At Fehlermodell weit verbreitet. Bei diesem wird angenommen, dass Knoten der Schaltung fest mit Masse (Stuck-at-0) oder mit der Versorgungsspannung (Stuck-at-1) verbunden ist. Bei kombinatorischen Schaltungen können verschiedene Fehler simuliert werden. Dabei gibt es im Test zwei Grundprinzipien, Steuerbarkeit und Beobachtbarkeit. In einer kombinatorischen Schaltung gibt es auch mehrere Knoten, die alle einen Stuck-at Fehler haben können (der Einfachheit halber nur einen gleichzeitig). Will man nun einen Fehler in einer Schaltung erkennen, so muss man ihn stimulieren und gleichzeitig beobachten können. Jedoch erkennt man keinen Fehler, wenn die Schaltung am Ende richtig arbeitet, der Fehler also nicht zum Ausgang wandert.
Problemlösung: Hierfür muss ein geeignetes Testmuster generiert werden. Dafür gibt es mehrere Methoden. Beim D-Algorithmus (Roth, 1966) versucht man den Fehler am Ausgang durch passende Belegung am Eingang beobachtbar zu machen, und dabei den Fehler nicht zu überschreiben.
Durchführung:
Die Durchgführung ist in drei Teilen geplant:
- Einarbeitung in das Stuck-at-Fehlermodell
- Einarbeitung in den D-Algortihmus
- Erstellen und erläutern mehrerer kleiner Beispiele
Termin: 08.07.2021 14:30 Uhr