Advantest T6673 VLSI-Testsystem
Es handelt sich hierbei um ein ATE (Automatic Test Equipment) zum Testen von Analog-, Digital-, Memory-, Power-, Mixed-Signal-Schaltungen.
Dieses kann somit auch zum Testen verschiedener IC-Systeme, wie LSI, RISC/CISC-MPs, ASICs, ASSPs eingesetzt werden..
Besondere Eigenschaften
| Datenrate | 125 / 250 / 500 MHz, „At Speed Testing“ |
| Allgemeine Timing-Genauigkeit | < ± 350 ps |
| Testkanäle | 1 x 1024 od. 2 x 512 ch (dabei 8 x 128 ch parallel) |
| Patternspeicher (SQPG) | 16MW |
| Testrate | 8 ns bis 1 ms (in 31,25 ps-Schritten) |
| Zeitauflösung | 31,25 ps im „on-the-fly mode“, 8 ps bei AC-Messung |
| Amplitude | -2,5 bis 6 V (bei 200 mV Kleinstamplitude!) (GTL/CTT/LVDS, IEEE1394 und LVS-CMOS geeignet) |
| Stromversorgungen | 32 x ± 6 V / ± 2 A (Parallelbetrieb möglich) 8 x ± 40 V / ± 8 mA (UDC) |
| Measurement Strom-/Spannungsauflösung |
bis zu 2 nA / 500 µV möglich |
| MSO (Mixed Signal Test Option) | AFG, AFD, VFG, VFD, WVFG, WVFD, DCAP |
| SCPG (Scan Test Pattern Generator) | max. 4 Gbit |
Der Tester verfügt über eine Zeitmess-Einheit, die der Anwender zum Messen einzelner Impulse bis zu 1,6 GBit/s mit einer Auflösung von 1,15 ps, bzw. bei fortlaufender Messung an bis zu acht Impulsen ohne Totzeit, verwenden kann. Diese Funktion ist besonders nützlich zum Messen des Jitters in Computer-Buszyklen.